|
1) Баранский П.И. и др. Электрические и гальваномагнитные явления
в анизотропных полупроводниках.-Киев:Наукова думка,1977.-270с./Для научных и инж.-техн.работников,преподавателей,аспирантов и
студентов вузов.
2) Степаненко И.П. Основы микроэлектроники.-М.:Сов.радио,1980.-
424с./Учеб.пособие для вузов.
3) Митрофанов О.В. и др. Физические основы функционирования
изделий микроэлектроники.-М.:Высшая школа,1987.-168с./Учеб.
пособие для вузов.Книга 1-я из 9-ти книг учебного издания
"Микроэлектроника".В мягкой обложке.
4) Коледов Л.А.,Ильина Э.М. Микроэлектронная аппаратура.-М.:
Высшая школа,1987.-128с./Учеб.пособие для вузов.Книга 9-я из 9-ти
книг учебного издания "Микроэлектроника".В мягкой обложке.
5) Лазарев В.Б. и др. Полупроводниковые соединения группы АIIBV.-
М.:Наука,1978.-256с./Для широкого круга учёных.
6) Осипов Э.В. Твердотельная криогеника.-Киев:Наукова думка,
1977.-235с./Для науч.работников,физиков,инженеров,аспирантов и
студентов.
7) Медведев С.А. Введение в технологию полупроводниковых
материалов.-М.:Высшая школа,1970.-504с./Учеб.пособие для вузов.
8) Гаркуша Ж.М. Основы физики полупроводников.-М.:Высшая школа,
1982.-245с/Учебник для техникумов.
9) Бонч-Бруевич В.Л. и др. Сборник задач по физике полупроводников.-2-е изд.,перераб. и доп.-М.:Наука,1987.-144с./
Учеб.пособие для вузов. В мягкой обложке.
10) Куколев Г.В. Химия кремния и физическая химия силикатов.-М.:
Высшая школа,1966.-474с./Учебник для вузов.
11) Курносов А.И.,Брук В.А. Основы полупроводниковой микроэлектроники.-М.:Высшая школа,1980.-296с./Учеб.пособие для
средних ПТУ.
12) Курносов А.И. Материалы для полупроводниковых приборов и
интегральных микросхем.-М.:Высшая школа,1980.-327с./Учеб.пособие
для средних ПТУ; 2-е изд.,перераб. и доп.
13) Волькенштейн Ф.Ф. Электроны и кристаллы.-М.:Наука,1983.-
128с./Для читателей,оканчивающих среднюю школу.В мягкой обложке.
14) Китайгородский А.И. Электроны.-3-е изд.-М.:Наука,1984.-208с.
(Серия "Физика для всех").В мягкой обложке.
15) Бокштейн Б.С. Атомы блуждают по кристаллу.-М.:Наука,1984.-
208с.(Библиотечка "Квант",Вып.28).В мягкой обложке.
16) Шебалин О.Д. Молекулярная физика.-М.:Высшая школа,1978.-
167с./Учеб.пособие для вузов.В мягкой обложке.
17) Гегузин Я.Е. Живой кристалл.-М.:Наука,1981.-192с./Для
школьников старших классов,преподавателей средней школы и всех
интересующихся естествознанием. В мягкой обложке.
18) Суворов А.Л. Микроскопия в науке и технике.-М.:Наука,1981.-
137с./Научно-популярная. В мягкой обложке.
!9) Павлов Л.П. Методы исследования параметров полупроводниковых
материалов.-М.:Высшая школа,1987/Учебник для вузов.
20) Пека Г.П. и др. Люминесцентные методы контроля параметров
полупроводниковых материалов и приборов.-Киев:Техника,1986.-152с./Для ИТР и студентов вузов. В мягкой
обложке.
21) Глудкин О.П.,Густов А.Е. Устройства и методы фотометрического контроля в технологии производства интегральных
схем.-М.:Радио и связь,1981.-112с.(Массовая библиотека инженера "Электроника").В мягкой обложке.
22) Некрасов М.М.,Платонов В.В.,Дадеко Л.И. Неразрушающие методы
обеспечения надёжности радиоэлектронной аппаратуры.-Киев:
Техника,1980.-199с./Для ИТР и студентов вузов.
23) Ермолов И.Н.,Останин ю.Я. Методы и средства неразрушающего
контроля качества.-М.:Высшая школа,1988.-368с./Для студентов
вузов и специалистов.
24) Бережной В.П.,Дубицкий Л.Г. Выявление причин отказов РЭА.-
М.:Радио и связь,1983.-232с./Для инженеров и спецов по надёжности и управлению качеством.В значительной мере касается
твердотельных электронных приборов.
25) Балакай В.Г. и др. Интегральные схемы АЦП и ЦАП.-М.:Энергия,
1978.-256с./Для спецов и студентов вузов.
26) Быстродействующие интегральные микросхемы ЦАП и АЦП и
измерение их параметров/Под ред.Марцинкявичуса А.-Й.К.-М.:Радио
и связь,1988.-224с./Для ИТР.
27) Автоматизация проектирования аналого-цифровых устройств/Под
ред.Э.И.Гитиса.-М.:Энергоатомиздат,1987.-184с./Для инженеров и
науч.работников.
28) Измерение параметров цифровых интегральных микросхем/Под ред. Д.Ю.Эйдукаса,Б.В.Орлова.-М.:Радио и связь,1982.-368с./Для
ИТР.
29) Методы неразрушающих испытаний:Физические основы,
практические применения,перспективы развития/Под ред. Р.Шарпа.-
Пер.с англ.под ред.Л.Г.Дубицкого.-М.:Мир,1972.-496с./Для
инженеров,физиков,материаловедов,конструкторов,работников служб
надёжности и контроля качества.
30) Глудкин О.П.,Черняев В.Н. Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных
микросхем.-М.:Энергия,1980.-360с./Учеб.пособие для студентов
вузов.
Состояние книг отличное.Продажа в Киеве.Цены договорные.Возможна
пересылка почтой с предоплатой.
|
|
